光学薄膜表面瑕疵检测系统检测原理介绍

越来越多的薄膜生产企业要求速度更快、幅度更高的生产线。在光学薄膜生产过程中薄膜表面产生的各种污点、杂质、蚊秦寸碘面虫以及孔洞等等,依靠人工检测早已无法满足生产和高速的薄膜生产线的需求，容易造成质量的损失。基于机器视觉检测技术的光学薄膜表面瑕疵检测系统凝聚了机器视觉领域的多项先进技术应用，并融入了多项创新的检测理念，检测精确、稳定、快速、可大幅度提高生产的柔性及自动化程度以提高生产效率，且易于实现信息集成。赛默斐视Simvision是为制造生产、自动化领域提供在机视觉在线检测和表面质量检测系统的设备提供商，同时也是国内领先的机器视觉解决方案提供商。

工具/原料

光学薄膜表面瑕疵检测系统

光学薄膜表面瑕疵检测系统检测原理：

1、针对透光率高的薄膜勤崞擒啶材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

光学薄膜表面瑕疵检测系统功能包括：

1、表面缺陷图像的快速截取；

2、疵点的位置(缺陷地图的具体位置分布)；

3、发现瑕疵后的声光报警；

4、瑕疵自动分类(根据客户对缺陷的要求来分类)；

5、瑕疵统计和报表自动生成；

6、在缺陷产品的边缘进行贴标定位（可选）；