逻辑电平分析仪如何使用

1、一、连接被测系统：逻辑分析仪采集探头连接到SUT上。在探头的内部比较器上，比较输入电压与门限电压(Vth)，判定信号的逻辑状态(1或0)。门限值由用户设置，从TTL电平到CMOS、ECL和用户自定义门限。逻辑分析仪探头分成多种物理形式：

2、1) 通用探头，带有“飞线组”，预计用于点到点调试。2) 高密度多通道探头，在电路板上要求专用连接器。探头能够采集高质量信号，其对SUT的影响最小。3)高密度压缩探头，使用无连接器探头。这种探头推荐用于要求更高信号密度的应用，或要求无连接器探头连接机制、以快速可靠地连接SUT的应用。

3、二、两种数据采集或时钟模式：1) 定时采集捕获信号定时信息。在这种模式下，使用逻辑分析仪内憧钏荭拜部时钟对数据采样。数据2)采样速度越快，测量分辨率越高。目标器件与逻辑分析仪采集的数据之间没有固定的定时关系。这种采集模式主要用于SUT信号之间定时关系最为重要时。3)状态采集用来采集SUT的“状态”。来自SUT的信号定义了样点(什么时候采集数据，采集数据的频次)。用来为采集提供时钟输入的信号可以是系统时钟，也可以是总线上的控制信号，还可以是导致SUT改变状态的信号。

4、三、采集状态数据和定时数据：在硬件和软件调试(系统联调)时，最好拥有相关的状态信息和定时信息。在一开始时，问题可能会检测为总线上的无效状态。这可能是由建立时间和保持时间违规之类的问题引起的。